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CTIMES / Kla-tenco
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
KLA-Tencor新光罩檢測技術可執行多缺陷檢測 (2008.05.02)
KLA-Tencor公司推出最新光罩檢測技術,名為「晶圓平面光罩檢測(Wafer Plane Inspection,WPI)」。WPI不但能勝任對良率至關重要的32奈米光罩缺陷檢測,其運行速度也比先前的檢測系統的快40%,並且可能可以縮減檢測在整體光罩生產中所佔的時間

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