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CTIMES / Asic 原型設計除錯
科技
典故		 電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立，是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新，與提供會員實質上的協助。
Tektronix展示 ASIC 原型設計除錯解決方案 (2013.05.15)
全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，將在 6 月2 至 6 日於美國德州奧斯汀所舉辦的 2013 Design Automation Conference (DAC) 會議中，展示近日推出的 Certus 2.0 ASIC 原型設計除錯解決方案，攤位編號為 819

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