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讨论文章主题﹕考量缺陷可能性 将车用IC DPPM降至零

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为了满足现今车用对于DPPM的要求，半导体厂商合作开发出的新方法，能够根据发生实体缺陷的可能性进行模式价值评估，并依模式计算与故障相关的总关键面积（TCA）。

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