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CTIMES / 顯示器檢測系統
科技
典故		 第一颗晶体管(Transistor)的由来

第二次世界大战末期，贝尔实验室开始一项研究计划，目标是研发出一种体积更小、功能更强大、更快速且可靠的装置来取代真空管。1947年12月23日，由贝尔实验室研发的晶体管取代了真空管，优点是体积更小、更可靠、且成本低廉，不仅孕育了今日遍及全球的电子半导体产业，同时也促成电讯计算机业、医学、太空探测等领域产生戏剧性的改变。
NI显示器检测系统技术研讨会圆满落幕 (2002.07.15)
NI台湾分公司(美商慧碁)7月份在台北、新竹举办2场「显示器检测系统技术研讨会」日前已圆满落幕，并于会后获得广大回响。此次研讨会除了展示整套检测系统并现场实际操作示范外，国内许多知名手机、PDA、显示器等制造厂商亦热烈参与讨论
NI发表显示器检测系统 (2002.04.12)
National Instruments(慧碁)发布了一套功能强大、现成即用的软硬件整合解决方案—全新的NI显示器检测系统(NI Display Test)，用于可靠的平面显示器检测。NI显示器测试系统为生产在线及实验室里的工程师提供了一套性能超群的测试方案，足以胜任目前及未来各种测试、量测领域的任务需求

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