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讨论新闻主题﹕是德科技发表WaferPro Express 2015量测软件平台

新闻 提要
是德科技（Keysight）日前发表WaferPro Express 2015量测软件平台，以协助工程师实现自动化晶圆级组件和电路组件特性分析。 WaferPro Express可在芯片级量测系统（包含仪器和晶圆探测器）中，有效地控制所有组件，以便降低量测配置的复杂性，并提供结合自动量测和数据管理的统一平台。 高容量的晶圆级测试系统已不再是半导体晶圆代工厂的专利。 今天，许多研发团队都需要在各种不同温度下量测大量的数据，以便因应组件建模、流程监控，可靠性和组件特性分析等应用的要求。 而自动化晶圆探测器已成了组件研发量测实验室的标准配备。 WaferPro Express 2015的一项重大突破是，它与Cascade Microtech的Velox 2.0探针台控制软件进行了独家整合

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