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是德科技推出第三代叁数测试解决方案 (2018.01.22)
是德科技（Keysight）日前推出第三代的Keysight P9000系列大规模并联叁数测设系统，可加速推动新技术的发展，并且降低先进半导体逻辑和记忆体IC的研发和制造成本。举例而言，新型元件结构和更高的效能，让每个先进技术节点（小於或等於20 nm）所需的叁数测试资料急遽增加


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