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MIMO测试应用及Model 4200-CVU产品发表会 (2007.10.18)
吉时利仪器将再度发表最新、最强大的测量仪器。此次发表会，将分享的研发成果包括业界领先的MIMO测试应用，以及针对强大的Model 4200半导体特性分析系统平台发表的新款电容电压量测仪器─Model 4200-CVU |
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Rohde & Schwarz Technology Week 2007 (2007.10.18)
Rohde & Schwarz 深知高效能的量测工具是协助您迈向成功之路的最佳利器，超过70年的集团经验，R&S以坚实的基础及创新的技术在专业领域上立于领导地位。在台湾，R&S掌握产业脉动，满足顾客需求，坚持提供顾客最佳解决方案与实现核心技术的承诺 |
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量测仪器厂Wayne Kerr在台成立亚洲区总公司 (2007.10.01)
成立于1946年，致力于LCR组件量测仪器与精密阻抗分析仪的英国Wayne Kerr公司，为提升台湾及亚洲区客户的使用需求与强化客户服务满意度，于95年8月正式在台正式成立Wayne Kerr亚洲区总公司-英之科科技股份有限公司 |
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安捷伦推出新款高速EXA信号分析仪 (2007.09.19)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）推出的EXA信号分析仪，为信号分析的价值立下了新的标准。Agilent EXA是速度相当快的经济型信号分析仪。超群的速度和准确度，为开发和制造工程师提供了经济且高效能的的方式，来除错新的设计、提高制造速度及分析随时变的复杂信号的能力 |
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吉时利仪器交换平台及量测解决方案发表 (2007.09.14)
美商吉时利仪器公司(Keithley Instruments Inc.)将发表一系列新产品平台，此发表会先行介绍新量测解决方案的首两项产品。
此次吉时利仪器公司所举办的发表会，将分享的研发成果包括全新高效能、高流量的交换和量测平台，以及甫加入SourceMeter Instrument系列的两个新成员！吉时利仪器公司商业营销暨信息系统副总裁Alan S |
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安捷伦宣布复合单晶体光学组件开发计划 (2007.09.07)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）宣布一项为OEM客户所打造的复合单晶体光学组件（CMO）开发计划。该计划使客户有机会将最新的高精密光学设计技术加入他们的光学系统设计中 |
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ASSET与安捷伦宣布整合内电路与JTAG测试 (2007.08.28)
国际边界扫描（JTAG/IEEE 1149.1）测试和系统内编程（ISP）厂商ASSET InterTech Inc.与安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）宣布将扩大双方长期的销售、营销与授权合作协议。根据该协议，ASSET的ScanWorks JTAG系统会整合到安捷伦的3070、Medalist i5000和较新版i3070内电路测试（ICT）系统中，以构成完善的JTAG解决方案 |
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致茂电子27日举行安规认证暨量测技术研讨会 (2001.04.27)
致茂电子于日前举办之"Monitor & Transformer产品法规认证暨量测技术研讨会完满落幕，会中邀请到TUV项目经理卢秀元先生，针对SPS及Monitor输欧产品之2001年最新规范EN60555-2作详尽介绍，提供现场来宾最新的完整信息 |
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太克举办蓝芽解决方案记者会 (2001.04.26)
太克科技于4月26日举办蓝芽科技解决方案记者会，会中除了展示太克科技所推出的蓝芽测试相关系列产品外，也请到Mr.Keven Boyett与Mr.Tommy Tomoyuki Sakurada针对现今的蓝芽趋势及相关量测仪器作一简报 |
一个想要满足于不同市场需求的通用型Bus标准界面，能否在不断升级传输速度及加大带宽之外，达到速度、容量、质量等多元整合、提升效能为一体的愿望？
