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Femtocell测试系统研讨会-新竹场 (2009.05.22)
Femtocell无非是当前最受瞩目的明星产品之一，它使用现有宽带线路来达成扩展手机通信服务范围至室内，对电信业者而言，活用现有Last mile将手机讯号带进室内，不用花功夫建置高功率基地台 |
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Femtocell测试系统研讨会-新竹场 (2009.05.22)
Femtocell无非是当前最受瞩目的明星产品之一，它使用现有宽带线路来达成扩展手机通信服务范围至室内，对电信业者而言，活用现有Last mile将手机讯号带进室内，不用花功夫建置高功率基地台 |
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Femtocell测试系统研讨会-台北场 (2009.05.21)
Femtocell无非是当前最受瞩目的明星产品之一，它使用现有宽带线路来达成扩展手机通信服务范围至室内，对电信业者而言，活用现有Last mile将手机讯号带进室内，不用花功夫建置高功率基地台 |
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Femtocell测试系统研讨会-台北场 (2009.05.21)
Femtocell无非是当前最受瞩目的明星产品之一，它使用现有宽带线路来达成扩展手机通信服务范围至室内，对电信业者而言，活用现有Last mile将手机讯号带进室内，不用花功夫建置高功率基地台 |
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Keithley推出新一代系统交换平台 (2007.09.21)
美商吉时利仪器公司（(Keithley Instruments）发表新一代切换开关以及整合式多功能数字电表（DMM）测试解决方案平台─Series 3700 System Switch/Multimeter以及扩充卡（Plug-in card）系列产品 |
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美商吉时利仪器优越产品获颁TI卓越供货商奖 (2007.07.24)
美商吉时利仪器公司宣布获颁德州仪器（TI）2006年卓越供货商奖（Texas Instruments 2006 Supplier Excellent Award）。这个年度奖项旨在奖励产品与服务达到德州仪器卓越高标准的供应厂商，得奖厂商获选理由包括在成本、环保责任、科技、反应能力、供货保证与质量等方面的表现足为楷模表率 |
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Keithley新脉冲测试软硬件量测 半导体实验室专用 (2007.04.24)
美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments, Inc.），继荣获多项大奖的Model 4200-SCS半导体特性量测系统之后，再推出比Model 4200-SCS更先进的脉冲测试软硬件量测产品。这套半导体实验室专用的量测系统，结合DC与脉冲测量功能，搭配全方位应用程序工具组，是完整解决方案的最佳选择 |
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吉时利推出脉冲与图形产生器新产品 (2006.05.08)
量测解决方案厂商-美商吉时利仪器公司，推出3400系列脉冲/信号图形产生器，提供关键效能优势，如优越讯号质量、由三奈秒至1000秒之精密脉冲宽度控制，以及简单、符合直觉之使用接口 |
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美商吉时利仪器扩充其电源电表产品线 (2006.03.23)
量测解决方案厂商美商吉时利仪器公司，宣布在2600电源电表系列增加两个新型号。型号2611与2612为美商吉时利仪器公司在去年推出革命性电源电表（SMU）的平台后，增加了处理更高电压及更高电流的能力，可以大幅降低多种电子零件的测试成本 |
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美商吉时利仪器推出新款射频测试仪器 (2006.02.23)
电子测试仪器厂商美商吉时利仪器公司，宣布推出一系列创新的射频测试仪器，这一系列仪器采用新的测试与量测方法，可节省顾客时间、心力与金钱。这些新产品可应用于设计、发展与制造过程，并且辅助目前在市场上已有的解决方案，包括电池仿真源、半导体特性分析系统以及电源电表组 |
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吉时利设立新营业处 扩充东南亚业务 (2005.10.25)
新兴量测需求解决方案的领导厂商，美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments, Inc.），宣布在东南亚业务进行重大扩充，包含扩大新加坡的营业处，并于马来西亚设立两所新营业处，负责电性测试及量测的解决方案的销售与支持业务 |
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Keithley推出低电压量测时消除噪声的Model 2182A奈伏计 (2004.09.15)
美商吉时利仪器公司(Keithley Instruments,Inc.)宣布推出Model 2182A奈伏计，适合研发、量测、奈米科技、超导性和其他低电压、低电阻应用的低噪声测量工作。
Model 2182A与Keithley最近推出的Model 6220直流电流源和Model 6221交流／直流电流源结合使用时 |
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吉时利仪器：DC/RF半导体参数测试系统问世 (2003.12.19)
美商吉时利仪器（Keithley Instruments）推出其S600系列的最新产品S680 DC/RF半导体参数测试系统。吉时利仪器表示，全新的SimulTest平行测试软件可以在一次探针接触中对多达9个组件进行同步测量，这个软件使得新系统可以原来200mm芯片的测试时间完成对300mm的芯片进行参数量测 |
