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是德科技將低頻雜訊分析儀緊密整合入晶圓級解決方案平台 (2016.07.22)
先進低頻雜訊分析儀與WaferPro Express的整合，可實現統包式雜訊量測解決方案，並提供直流特性、電容和RF S參數量測功能。 是德科技（Keysight）日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測
是德科技低頻雜訊量測系統獲中國賽寶實驗室用於元件可靠性研究 (2016.03.02)
是德科技（Keysight）日前宣佈中國賽寶實驗室（CEPREI Laboratory）採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）進行閃變雜訊（1/f雜訊）和隨機電報雜訊（RTN）的量測與分析，以增進半導體元件（包括MOSFET、HEMT和TFT等）可靠性研究


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