CTIMES - 搜尋：晶圓級量測

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	是德科技協助瑞聲科技推出商業化高效能5G毫米波前端解決方案 (2019.05.08) 是德科技（Keysight Technologies Inc.）日前宣布旗下的 5G解決方案獲先進微型化技術領導供應商瑞聲科技（AAC Technologies）選用，以推出適用於下一代行動電話和基地台的高效能5G毫米波前端解決方案
	是德科技將低頻雜訊分析儀緊密整合入晶圓級解決方案平台 (2016.07.22) 先進低頻雜訊分析儀與WaferPro Express的整合，可實現統包式雜訊量測解決方案，並提供直流特性、電容和RF S參數量測功能。是德科技（Keysight）日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測
	是德科技發表WaferPro Express 2015量測軟體平台 (2015.05.06) 是德科技（Keysight）日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台，以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統（包含儀器和晶圓探測器）中，有效地控制所有元件，以便降低量測配置的複雜性，並提供結合自動量測和資料管理的統一平台
	安捷倫與Cascade Microtech聯手協助工程師簡化射頻測試 (2014.07.07) 安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣佈與Cascade Microtech建立策略聯盟，雙方將共同提供經過完整配置與驗證的晶圓級射頻量測解決方案，以協助工程師加速進行晶圓級半導體量測