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医疗设备高效电源管理之高性能设计 (2020.09.08)
新世代医疗穿戴式设备已整合一系列微机电系统(MEMS)感测器,但这些感测器本质上具有高讯号杂讯比的问题,设计人员需要寻找新的节能解决方案。
Tektronix 推出全新的双通道万用电表 (2018.11.09)
Tektronix 今(9)日推出 Keithley DMM7512 双通道 7 位半取样万用电表,将两部独立且相同的数位万用电表封装在一个 1U 高、全机架宽度的精巧外壳中,将可有效地节省空间。DMM7512 兼具业界领先的密度和高效能,非常适合同时需要量测能力、高效能和精巧尺寸的各种大量生产线测试应用
NI 发表高精度PXI电源量测单元 (2016.08.05)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率,工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用
NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率,工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用
NI举办2016自动化测试与量测技术研讨会 (2016.07.25)
NI国家仪器近日于台南、新竹、台北分别举办2016自动化测试与量测技术研讨会,透过系列讲座与实机展示,剖析自动化测试与量测的最新趋势、分享PXI平台如何协助客户进入物联网时代及提供有效管理巨量类比资料(Big Analog Dara)的解决方案
速度/密度/弹性,NI 树立 SMU 新标竿 (2014.06.30)
NI 美商国家仪器推出NI PXIe-4139 系统电源量测单位(SMU),NI SMU 系列的高效能产品。这款SMU 可协助测试工程师缩短整体的测试成本,同时加快上市速度,适用于半导体、汽车、消费型电子等多种产业
NI 树立 SMU 新标竿 (2014.05.19)
NI 美商国家仪器推出 NI PXIe-4139 系统电源量测单位 (SMU),NI SMU 系列的高效能产品。这款 SMU 可协助测试工程师缩短整体的测试成本,同时加快上市速度,适用于半导体、汽车、消费型电子等多种产业
R&S全新推出 13.6 GHz 及 20 GHz 手持式频谱分析仪 (2013.04.10)
Rohde & Schwarz 推出了两款 R&S FSH 手持式频谱分析仪,分别为 R&S FSH13 支持 9 kHz ~ 13.6 GHz 频段以及R&S FSH20 支持频段达 20 GHz,此两款机种皆配备了放大器以达到最大的灵敏度,用户可以透过此手持式频谱分析仪达到微波等级的量测范围
Rohde & Schwarz 推出全新 FSW43 高阶讯号及频谱分析仪 (2012.12.11)
Rohde & Schwarz 现在推出全新的R&S FSW 讯号及频谱分析仪 ,其频率范围可支持达 43.5 GHz 非常适合做为微波量测应用,另搭配 R&S 谐波混频器,其频率范围即可扩充达110 GHz;为无线网络、雷达及卫星应用开发者的最佳解决方案
吉时利推出低电流分辨率的双信道微电流表/电压源 (2012.10.19)
吉时利仪器公司,推出6482型双信道微电流表/电压源,来扩展其在低电平测量领域的领导地位。该微电流表包含两个 ±30V的独立且非流动性的偏压源,具有1fA测量分辨率。6482型微电流表是吉时利公司精密测试仪表家族的最新产品,它在2U高半机宽度内提供两个独立的微电流表/电压源信道,允许两个信道同时进行6位半测量
细说频谱分析仪之种类与应用 (2008.03.10)
频谱分析仪主要用于显示频域输入信号的频谱特性,因此对于信号分析而言是不可缺少的量测仪器。频谱分析仪是透过频域对信号进行分析、研究,本文简单介绍了频谱分析仪的应用与运作,在许多应用领域,频谱分析仪都是工程师的好帮手
频谱分析仪优势探讨 (2007.12.19)
频谱分析仪对于射频量测工程师而言,是非常重要的一种量测仪器。而工程师对于使用传统频谱分析仪和FFT讯号分析仪进行功率与频率测试时,也必须深入了解并掌握频谱分析仪的基本知识,如此才可让频谱分析仪发挥最大功效
光收发器自动化测试系统架构要领 (2002.10.05)
在光纤通讯系统中,所有网络传输必须转换成光信号的数据或是需要将接收的光讯号转回电子型态,都要利用光收发器来完成。然而,光收发器测试自动化系统说来容易,实际上建构起来复杂,任一环节出现错误或偏差,都会造成测试误差,影响产品质量


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