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CTIMES / Gunnar Stolze
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電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立,是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新,與提供會員實質上的協助。
光纖被動元件之極化相依損耗量測 (2003.07.05)
目前有兩種普遍採用的方法可以量測PDL:極化掃描法Polarization Scanning Technique以及四態法(four-state method通常也稱為Mueller法)。如果需要量測多個波長的PDL,Mueller法比較快

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