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CTIMES / 晶片測試
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
是德科技協助銳迪科微電子加速進行NB-IoT晶片測試 (2017.06.06)
晶片、模組和裝置製造商可使用是德科技測試解決方案來驗證和改進射頻效能 是德科技(Keysight)日前宣佈窄頻物聯網(NB-IoT)射頻效能測試解決方案獲銳迪科微電子(RDA)選用,協助該公司加快NB-IoT晶片組測試
智慧化方案輕鬆搞定SoC測試 (2015.10.21)
SoC降低了電子產品成本,卻增加了晶片設計和測試難度。 面對複雜的SoC晶片,低成本方案很難滿足所有測試要求, 工程師亟需尋求新的降低SoC測試成本之法。

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