CTIMES - 量測儀器

MIMO測試應用及Model 4200-CVU產品發表會 (2007.10.18)
吉時利儀器將再度發表最新、最強大的測量儀器。此次發表會，將分享的研發成果包括業界領先的MIMO測試應用，以及針對強大的Model 4200半導體特性分析系統平台發表的新款電容電壓量測儀器─Model 4200-CVU

Rohde & Schwarz Technology Week 2007 (2007.10.18)
Rohde & Schwarz 深知高效能的量測工具是協助您邁向成功之路的最佳利器，超過70年的集團經驗，R&S以堅實的基礎及創新的技術在專業領域上立於領導地位。在台灣，R&S掌握產業脈動，滿足顧客需求，堅持提供顧客最佳解決方案與實現核心技術的承諾

量測儀器廠Wayne Kerr在台成立亞洲區總公司 (2007.10.01)
成立於1946年，致力於LCR元件量測儀器與精密阻抗分析儀的英國Wayne Kerr公司，為提升台灣及亞洲區客戶的使用需求與強化客戶服務滿意度，於95年8月正式在台正式成立Wayne Kerr亞洲區總公司-英之科科技股份有限公司

安捷倫推出新款高速EXA信號分析儀 (2007.09.19)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）推出的EXA信號分析儀，為信號分析的價值立下了新的標準。Agilent EXA是速度相當快的經濟型信號分析儀。超群的速度和準確度，為開發和製造工程師提供了經濟且高效能的的方式，來除錯新的設計、提高製造速度及分析隨時變的複雜信號的能力

吉時利儀器交換平台及量測解決方案發表 (2007.09.14)
美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments Inc.)將發表一系列新產品平台，此發表會先行介紹新量測解決方案的首兩項產品。此次吉時利儀器公司所舉辦的發表會，將分享的研發成果包括全新高效能、高流量的交換和量測平台，以及甫加入SourceMeter Instrument系列的兩個新成員！吉時利儀器公司商業行銷暨資訊系統副總裁Alan S

安捷倫宣佈複合單晶體光學元件開發計畫 (2007.09.07)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈一項為OEM客戶所打造的複合單晶體光學元件（CMO）開發計畫。該計畫使客戶有機會將最新的高精密光學設計技術加入他們的光學系統設計中

ASSET與安捷倫宣佈整合內電路與JTAG測試 (2007.08.28)
國際邊界掃描（JTAG/IEEE 1149.1）測試和系統內編程（ISP）廠商ASSET InterTech Inc.與安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈將擴大雙方長期的銷售、行銷與授權合作協定。根據該協定，ASSET的ScanWorks JTAG系統會整合到安捷倫的3070、Medalist i5000和較新版i3070內電路測試（ICT）系統中，以構成完善的JTAG解決方案

致茂電子27日舉行安規認證暨量測技術研討會 (2001.04.27)
致茂電子於日前舉辦之"Monitor & Transformer產品法規認證暨量測技術研討會完滿落幕，會中邀請到TUV專案經理盧秀元先生，針對SPS及Monitor輸歐產品之2001年最新規範EN60555-2作詳盡介紹，提供現場來賓最新的完整資訊

太克舉辦藍芽解決方案記者會 (2001.04.26)
太克科技於4月26日舉辦藍芽科技解決方案記者會，會中除了展示太克科技所推出的藍芽測試相關系列產品外，也請到Mr.Keven Boyett與Mr.Tommy Tomoyuki Sakurada針對現今的藍芽趨勢及相關量測儀器作一簡報