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CTIMES / 多埠測試系統
科技
典故		 攀上傳輸頂巔──介紹幾個數位顯示介面標準

當傳輸技術進入數位時代之後，使用者及廠商對於數位顯示的品質要求越來越注重，結合顯示卡硬體的數位顯示介面標準，其發展進度因而更受到矚目。
Agilent的多埠測試系統可加快RF元件的測試速度 (1999.12.10)
安捷倫科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出Agilent 87050E多埠測試系統，在大量製造的生產線上量測50歐姆RF元件的性能時，可大幅提高測試速度和準確度。 新的測試系統是專為搭配Agilent 8712E系列網路分析儀而設計的，兩者的組合提供一個高達3GHz的完整解決方案，可量測最多達12個埠的元件

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