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討論新聞主題﹕Tektronix推出兩款新型光學模組 具高靈敏度和低雜訊

新聞 提要
Tektronix為DSA8300取樣示波器推出了兩款新型光學模組，這些產品具高靈敏度和低雜訊，不僅可為製造商提高生產能力，同時也能提高400G設計投入產量的信心。Tektronix並宣布透過針對高輸送量製造測試的四通道平行處理最佳化處理的軟體套件，增強對最新400G PAM4 TDECQ量測的支援服務。 全新的模組和功能及全套 Tektronix 100G/400G 光學表性分析和驗證解決方案即將在 OFC 光學網路和通訊會議以及本週在加州聖地牙哥 (San Diego) 舉辦的展覽會上展示。Tektronix 亦在活動中為其 DPO70000SX 即時示波器推出了全新的 56 GBd 單模光學探棒。 Tektronix高頻通訊總經理Sarah Boen表示：「隨著400G設計進入生產階段，我們的客戶正在尋找改善製造良率和測試成本的方法，這一切都始於對測試結果的信心，以及快速、準確地區隔良莠組件的能力

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