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Mentor Graphics最新Tessent Scan Pro实现测试资料量压缩效益 (2015.10.13)
Mentor Graphics公司(明导国际)推出新款Tessent Scan Pro 产品,该产品采用的技术可以显著减少使用Tessent TestKompress ATPG 压缩方案的测试资料量。由于测试资料量很大程度上决定了测试积体电路(IC)的成本和时间,因此Tessent ScanPro 产品可帮助晶片制造商以更快、更具成本效益的方式交付他们的产品
意法半导体采用明导国际DFT工具为先进IC测试 (2009.02.26)
明导国际(Mentor Graphics)今日（2/26）宣布，意法半导体(STMicroelectronics)已采用TestKompress自动化测试向量产生(ATPG)产品，融入该公司标准的65nm与45nm设计套件中。这个测试流程将为汽车、行动基地台与图像处理等应用软件实现以扫描为基础的高质量量产测试
奈米级IC测试挑战 (2005.05.05)
过去数年，数字电路的测试方法一直随着科技演进。其中，首次的最大改变是从芯片I/O的功能性测试（以逻辑仿真测试向量为基础）转变成以扫描（scan）为基础的测试方法


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