账号：
密码：
CTIMES / 光學測試
科技
典故		 链接计算机与接口设备的高速公路——IEEE1394

IEEE1394是一种能让计算机与接口设备之间相互链接沟通的共同接口标准。如此迅速有效率的传输速度，便时常应用在连接讯号传输密度高、传输量大的接口设备。
Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展，以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会
Tektronix迈入光学组件及DWDM物理层测试 (2002.05.09)
Tektronix(太克科技)日前发表光学测试系统物理层量测应用之新系列产品，它为密集波长分割多任务 (DWDM) 组件及网络组件的光学设备制造商设定高准确度、高分辨率，及高生产率之新效能测试

  十大热门新闻

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw