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五大趋势决定量测自动化未来 (2014.05.02)
自动化量测具备高弹性特色，为竞争日益激烈的电子产品制造商，提供了高性价比的量测解决方案，从大方向来看，自动化量测从2010年开始，有五项较为明显的趋势，这些趋势将使的此一产业出现与以往不同的面貌 |
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PAC逐渐成形 嵌入式自动化市场再下一城 (2013.12.23)
如果依照维基百科对嵌入式系统的定义，「嵌入式系统通常执行的是带有特定要求的预先定义的任务，由于嵌入式系统只针对一项特殊的任务，设计人员能够对它进行优化，减小尺寸降低成本 |
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LitePoint：台厂，你仍有机会抢得先机！ (2012.10.02)
智能型手机、平板正夯，出货量呈指数增长。然而，如今测试一台智能手机仍需10分钟，按此速度，根本无法追赶上消费者的需求。无线测试系统解决方案领导厂商莱特菠特(LitePoint)营运长Brad Robbins看准这股市场趋势 |
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工研院发表非侵入式血糖仪 从眼睛里看健康 (2012.10.02)
糖尿病患最引以为苦的，莫过于每天4-6次穿刺采血检验血糖值。为此，工研院今(2)日发表非侵入式「实时自我监测血糖仪」技术，透过低能量红外光照射眼睛内的前房液，来检测葡萄糖浓度改变化，推算得知人体相对的血糖浓度值 |
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R&S推高阶影音接口测试仪 弹性化方案满足多种需求 (2012.09.12)
随着现今消费者对于高画质影像需求越来越高，不少平板计算机、智能手机等行动装置都已有支持高画质影音传输接口如MHL、HDMI。为了满足各种接口的测试需求，R&S推出VTC影音测试中心，可针对传输接口的兼容性进行相关标准的功能性测试，并提供实时协议测试和影音分析功能 |
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量测产业下一步：迈向标准化 (2012.08.07)
「科技」，可以是一种时尚。「科技」，也可以是一种潮流。但是，它更必须具有一种独特的思维，才得以不断超越过去。CTIMES特地邀请美商国家仪器(National Instruments；简称NI)总经理孙基康谈谈整个量测科技的脉动与观察 |
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凌华推出16位PXI Digitizer新品系列 (2009.02.13)
数据撷取与PXI平台产品供货商凌华科技宣布以优惠价格推出一系列16位PXI Digitizer产品（PXI数字器），透过特别优化的模拟前级设计、精密校正电路以及搭配高解析之模拟数字A/D转换器，提供高精准度、低噪音以及高动态范围性能 |
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Tektronix发行第一套物理层测试程序 (2008.11.06)
测试、量测及监测仪器厂商Tektronix宣布发行Serial ATA 3.0版标准物理层测试的第一套测试程序。Tektronix针对SATA物理层设计和侦错提供完善的高速串行数据测试组合。
Serial ATA储存接口的第三代规格最大传输速度将从3Gb/s倍增至6Gb/s，准备迈向更高性能的储存解决方案，包括新的固态磁盘驱动器和企业商业储存需求 |
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2008安捷伦电子量测论坛开幕记者会 (2008.06.24)
2008安捷伦电子量测论坛将于2008年7月8,10日盛大展开，这次活动将分两大主题『Moving into a New Era of Wireless（迈入无线新纪元）』与『The Way Ahead for Digital Design Measurement" （数字设计量测的前景）』 |
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2008安捷伦电子量测论坛-新竹场 (2008.06.17)
安捷伦科技致力于量测技术发展，在客户导向的市场趋势中，持续提供支持台湾高科技产业的竞争力提升。连续八年，举办十次安捷伦电子展，与顾客分享最具市场趋势的全系列解决方案 |
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2008安捷伦电子量测论坛-台北场 (2008.06.17)
安捷伦科技致力于量测技术发展，在客户导向的市场趋势中，持续提供支持台湾高科技产业的竞争力提升。连续八年，举办十次安捷伦电子展，与顾客分享最具市场趋势的全系列解决方案 |
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KLA-Tencor 针对32奈米光蚀控制推出新量测系统 (2008.06.09)
KLA-Tencor公司推出最新的迭对量测系统Archer200，搭载强化的光学系统，在32奈米设计规格节点中，协助客户达到双次成图光蚀（Double-patterning lithography）所需的更高要求，大幅提升性能 |
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PXI TAC 2008第五届大中华PXI技术和应用论坛 (2008.05.19)
PXI技术经过多年的推广与发展已经成为业界纯熟知名的量测平台，而每年固定将最新PXI技术和热门应用介绍给广大客户的大中华PXI技术和应用论坛也已迈入第五年。PXI TAC 2008将展于6月3日于六福皇宫！在此论坛中 |
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智原科技宣布开始提供SiP设计服务 (2008.03.20)
智原科技(Faraday Technology)宣布将开始提供SiP(system in Package)设计服务，目前已开发RF SiP项目，主要应用于GPS产品。智原并将持续优化其设计流程，包括设计流程自动化以及提供客户封装及电性分析报告等 |
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安捷伦射频量测技术研习营组件篇-高雄 (2008.03.05)
安捷伦科技将举办射频量测技术研习营，这场免费的半天研习营活动，将介绍相位噪声(Phase Noise)、噪声指数(Noise Figure)等组件量测参数基础概念与正确量测方式，以协助您克服在短程和长程无线通信等各种技术中，有关测试信号的产生与组件特性的分析等挑战 |
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安捷伦射频量测技术研习营组件篇-新竹 (2008.03.05)
安捷伦科技将举办射频量测技术研习营，这场免费的半天研习营活动，将介绍相位噪声(Phase Noise)、噪声指数(Noise Figure)等组件量测参数基础概念与正确量测方式，以协助您克服在短程和长程无线通信等各种技术中，有关测试信号的产生与组件特性的分析等挑战 |
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安捷伦射频量测技术研习营组件篇-台北 (2008.03.05)
安捷伦科技将举办射频量测技术研习营，这场免费的半天研习营活动，将介绍相位噪声(Phase Noise)、噪声指数(Noise Figure)等组件量测参数基础概念与正确量测方式，以协助您克服在短程和长程无线通信等各种技术中，有关测试信号的产生与组件特性的分析等挑战 |
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LED散热与量测技术(CIE127)研讨会 (2007.11.28)
此课程将探讨LED之基本原理与制程，讲解一般光学量测之定义、名词和理论。同时因发光二极管与传统灯源的特性完全不同，适用于传统照明光源的全光束及亮度量测方法未必适用于LED量测上，为此国际照明协会特别针对LED光学特性的量测进行研究，并制订「CIE-127 Measurement of LED」（即CIE-127）作为各研究单位与厂商依循的规范 |
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Tektronix新产品发表会 (2007.09.13)
随着科技日新月异的更新与进步，如何以更迅速及更有效的工具量测讯号已成为业界的一大挑战。Tektronix将于维多利亚酒店享用午餐并于下午在Cool Meeting室举行新产品发表会 |
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太克连续两年荣获广播及制作杂志等大奖 (2001.12.28)
视讯测试、量测，及监视解决方案主要供应者太克科技(Tektronix)，连续第二年获颁多项媒体大奖：包括，意大利广播及制作杂志 (IBTS) 颁发的「电视首奖」及「电视摄影棚量测仪器」类首奖 |
当传输技术进入数字时代之后，用户及厂商对于数字显示的质量要求越来越注重，结合显示适配器硬件的数字显示接口标准，其发展进度因而更受到瞩目。
