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CTIMES / 成像儀
科技
典故
只有互助合作才能雙贏——從USB2.0沿革談起

USB的沿革歷史充滿曲折,其中各大廠商從本位主義的相互對抗,到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作,能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省?
Imec發表高量子效率CCD-in-CMOS成像儀 加入近UV感測功能 (2018.11.06)
奈米電子和數位技術研究與創新機構imec,在Vision 2018展覽會上,推出了一款基於電荷耦合器件(CCD)-in-CMOS技術的高速紫外線感應與時間延遲積分(TDI)成像儀。TDI成像儀在近紫外(UV)區域具有70%以上的量子效率,使其可應用於工業機器視覺,尤其是作為半導體製造過程中的檢測工具

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