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薄膜機械性質量測技術研討會
 


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開始時間﹕ 十二月十二日(三) 09:00 結束時間﹕ 十二月十二日(三) 16:00
主辦單位﹕ 經濟部標準檢驗局
活動地點﹕ 工研院光復院區/量測中心16館-新竹市光復路2段321號
聯 絡 人 ﹕ 李小姐 聯絡電話﹕ (03)574-3810
報名網頁﹕
相關網址﹕ http://www.itri.org.tw/chi/news_events/seminar/showpost-s.jsp?postno=16291&smncd=16291

薄膜材料已大量應用於光電、半導體及生醫等相關產業,由於薄膜之厚度極薄,因此其所展現之特性已迥異於巨觀材料所展現之特性,再者,傳統之機械性質量測方法已不再適用於量測薄膜之機械特性。

因此,此研討會將邀請國內薄膜機械性質量測專家,介紹相關薄膜機械性質之量測方法,除了著重於奈米壓痕薄膜機械性質量測技術外,亦將於會中介紹相關之薄膜機械性質量測技術,透過講師精闢之講解及現場實際示範操作,期使學員能對薄膜量測技術有更深一層之了解。

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