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CTIMES / Basler
科技
典故
只有互助合作才能双赢——从USB2.0沿革谈起

USB的沿革历史充满曲折,其中各大厂商从本位主义的相互对抗,到尝尽深刻教训后的Wintel合作,能否给予后进有意「彼可取而代之」者一些深思与反省?
Basler剖析半导体趋势 锁定先进封装与AI视觉检测商机 (2025.12.09)
随着AI伺服器、车用电子与高速通讯应用需求的高涨,全球半导体产业预计仍将维持强劲的动能,进而推升检测、量测与测试设备的需求。为应对此一趋势,德国工业相机大厂Basler日前举办「半导体视觉技术应用讲座」,深入剖析从晶圆制造、先进封装到终端应用的视觉检测挑战
【Final Call】席次倒数!掌握先进封装良率关键,Basler半导体视觉技术讲座 (2025.11.18)
先进封装制程中,微米级凸块(bumps)的检测是良率与成本的决战点。面对高速产线与奈米级缺陷的双重挑战,传统检测是否已成为您的瓶颈? (圖一) 下周四(11/27),解答就在这里
【Final Call】席次倒数!掌握先进封装良率关键,Basler半导体视觉技术讲座 (2025.11.18)
先进封装制程中,微米级凸块(bumps)的检测是良率与成本的决战点。面对高速产线与奈米级缺陷的双重挑战,传统检测是否已成为您的瓶颈? 下周四(11/27),解答就在这里
【半导体人注意!】晶片良率卡关?机器视觉大厂Basler专家为你揭密 (2025.11.09)
产线速度快到飞起,但晶圆上那几万个微米级的凸块 (bumps),只要一个「走位」或有点小瑕疵,整片高效能晶片可能就直接报废...用传统方法检测,根本跟不上现在的产能速度,更别说要抓到那些「奈米级」的魔鬼细节
【半导体人注意!】晶片良率卡关?机器视觉大厂Basler专家为你揭密 (2025.11.09)
产线速度快到飞起,但晶圆上那几万个微米级的凸块 (bumps),只要一个「走位」或有点小瑕疵,整片高效能晶片可能就直接报废...用传统方法检测,根本跟不上现在的产能速度,更别说要抓到那些「奈米级」的魔鬼细节
Basler宣布管理层交接 Hardy Mehl将任CEO (2025.11.04)
德国机器视觉大厂Basler AG监事会近日宣布管理董事会重大人事异动。现任执行长Dr. Dietmar Ley在领导公司超过25年後,出於个人因素考量,已请求监事会寻找接任人选,其合约将於2025年底到期後不再续任
Basler宣布管理层交接 Hardy Mehl将任CEO (2025.11.04)
德国机器视觉大厂Basler AG监事会近日宣布管理董事会重大人事异动。现任执行长Dr. Dietmar Ley在领导公司超过25年後,出於个人因素考量,已请求监事会寻找接任人选,其合约将於2025年底到期後不再续任
从先进封装到晶圆瑕疵检测 Basler解密半导体「零缺陷」关键 (2025.11.03)
在先进封装制程中,数以万计的微米级凸块(bumps) 必须完美对位,任何一个微小的偏移或瑕疵都可能导致昂贵的高效能晶片报废。因此在高速的晶圆生产线上,传统检测技术已难以跟上产能需求,更遑论精准揪出奈米级的缺陷
从先进封装到晶圆瑕疵检测 Basler解密半导体「零缺陷」关键 (2025.11.03)
在先进封装制程中,数以万计的微米级凸块(bumps) 必须完美对位,任何一个微小的偏移或瑕疵都可能导致昂贵的高效能晶片报废。因此在高速的晶圆生产线上,传统检测技术已难以跟上产能需求,更遑论精准揪出奈米级的缺陷
从先进封装到晶圆瑕疵检测 Basler解密半导体「零缺陷」关键 (2025.11.03)
在先进封装制程中,数以万计的微米级凸块(bumps) 必须完美对位,任何一个微小的偏移或瑕疵都可能导致昂贵的高效能晶片报废。因此在高速的晶圆生产线上,传统检测技术已难以跟上产能需求,更遑论精准揪出奈米级的缺陷
从先进封装到晶圆瑕疵检测 Basler解密半导体「零缺陷」关键 (2025.11.03)
在先进封装制程中,数以万计的微米级凸块(bumps) 必须完美对位,任何一个微小的偏移或瑕疵都可能导致昂贵的高效能晶片报废。因此在高速的晶圆生产线上,传统检测技术已难以跟上产能需求,更遑论精准揪出奈米级的缺陷
【立即报名】Basler次世代半导体视觉应用技术讲座:突破检测极限 提升良率与效率 (2025.10.26)
面对制程微缩的极致挑战,您的检测系统准备好了吗? 随着半导体制程技术不断迈向 2nm、3nm 的先进节点,以及 CoWoS、PLP、CPO 等创新封装技术的普及,传统的自动光学检测(AOI)正遭遇前所未有的挑战
【立即报名】Basler半导体视觉应用技术讲座:突破检测极限 提升良率与效率 (2025.10.26)
面对制程微缩的极致挑战,您的检测系统准备好了吗? (圖一) 随着半导体制程技术不断迈向 2nm、3nm 的先进节点,以及 CoWoS、PLP、CPO 等创新封装技术的普及,传统的自动光学检测(AOI)正遭遇前所未有的挑战
Basler全新小型高速线扫描相机适合主流应用 (2024.11.01)
Basler推出全新2k与4k线扫描相机racer 2 S,扩大racer 2相机系列阵容。具备多种相容元件,Basler提供主流应用所需的完整线扫描视觉系统,例如特殊的线扫描LED光源和C-mount镜头
Basler全新小型高速线扫描相机适合主流应用 (2024.11.01)
Basler推出全新2k与4k线扫描相机racer 2 S,扩大racer 2相机系列阵容。具备多种相容元件,Basler提供主流应用所需的完整线扫描视觉系统,例如特殊的线扫描LED光源和C-mount镜头
Basler全新AI影像分析软体符合复杂应用需求 (2024.09.27)
Basler AG 推出 pylon AI,扩大pylon软体套件阵容。pylon AI 拥有具备人工智慧(AI)演算法的影像分析功能,能够轻易取得精确影像分析,用以解决多种复杂的视觉工作,例如分类与语意分割等
Basler全新AI影像分析软体符合复杂应用需求 (2024.09.27)
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Basler新型 CXP-12线扫描相机具备8k和16k解析度 (2024.07.03)
Basler AG 扩大线扫描相机产品线阵容,推出全新 Basler racer 2 L 黑白版本,配备 CXP-12 介面。搭载最新Gpixel感光元件,具备8k或16k解析度,线速率最高可达200 kHz。搭配Basler影像撷取卡与可进行FPGA程式编写的VisualApplets软体的预处理解决方案,可大幅降低CPU在应用中的负荷
Basler新型 CXP-12线扫描相机具备8k和16k解析度 (2024.07.03)
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Basler 新型 ace 2 V相机具备 CoaXPress 2.0 介面 (2024.06.28)
Basler ace 2 V是具备单通道 CoaXPress 2.0 介面、29 mm x 29 mm 小巧设计的相机,扩大知名 ace 2 相机系列的阵容。新机型搭载 Sony Pregius S 系列 7 种感光元件,具备黑白与彩色机种,提供宽广的解析度,范围自 5 MP 到 24 MP,取像速度最高可达 212 fps

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