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是德科技推出第三代參數測試解決方案 (2018.01.22)
是德科技（Keysight）日前推出第三代的Keysight P9000系列大規模並聯參數測設系統，可加速推動新技術的發展，並且降低先進半導體邏輯和記憶體IC的研發和製造成本。舉例而言，新型元件結構和更高的效能，讓每個先進技術節點（小於或等於20 nm）所需的參數測試資料急遽增加 |
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是德科技推出第三代參數測試解決方案 (2018.01.22)
是德科技（Keysight）日前推出第三代的Keysight P9000系列大規模並聯參數測設系統，可加速推動新技術的發展，並且降低先進半導體邏輯和記憶體IC的研發和製造成本。舉例而言，新型元件結構和更高的效能，讓每個先進技術節點（小於或等於20 nm）所需的參數測試資料急遽增加 |
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是德科技X系列訊號分析儀新增可擴展頻率範圍性能 (2014.11.14)
是德科技（Keysight）日前宣佈旗下的PXA、MXA和EXA X系列訊號分析儀現在提供展頻升級選項。目前市面上其他製造商的訊號分析儀，往往在購買儀器之後就無法將頻率範圍升級 |
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是德科技X系列訊號分析儀新增可擴展頻率範圍性能 (2014.11.14)
是德科技（Keysight）日前宣佈旗下的PXA、MXA和EXA X系列訊號分析儀現在提供展頻升級選項。目前市面上其他製造商的訊號分析儀，往往在購買儀器之後就無法將頻率範圍升級 |
一個想要滿足於不同市場需求的通用型Bus標準界面，能否在不斷升級傳輸速度及加大頻寬之外，達到速度、容量、品質等多元整合、提升效能為一體的願望？
